探針是探針臺(tái)電學(xué)測(cè)試過程中的主要耗材，其主要作用是通過探針的針尖接觸樣品的pad，從而傳輸信號(hào)。一般材質(zhì)由鎢或者鈹銅材質(zhì)組成（可選鍍金）。
探針屬于標(biāo)準(zhǔn)件，也可以接受定制。一般探針針桿直徑都是0.51mm，適配市面所有標(biāo)準(zhǔn)三同軸夾具。探針針尖可以從0.1um到200um可選。
美國(guó)GGB ST 系列硬針
類別：ST系列
尺寸：鎢材質(zhì)
特點(diǎn)：純鎢99.99%，抗氧化性好。該系列硬針是0.020 inch (0.51mm) 直徑鎢材質(zhì)針桿經(jīng)過精密電化學(xué)加工成為不同的針尖直徑，長(zhǎng)度為1.5inch(38.1mm)的探針。這種探針應(yīng)用與絕大多數(shù)的芯片電極點(diǎn)測(cè)和線路點(diǎn)測(cè)。此探針也可以用于與刮擦或者刺穿芯片表面鈍化層，在半導(dǎo)體探針臺(tái)領(lǐng)域次探針使用頻率最高。
參數(shù)：針尖直徑從1um到200um可選
型號(hào)：ST-20-0.5/1.0/2.0/5.0/10.0/25.0/50.0/100.0
美國(guó)GGB T-4 系列軟針 類別：T-4系列
尺寸：鎢材質(zhì)
特點(diǎn)：T-4 系列軟針較多的應(yīng)用于點(diǎn)測(cè)集成電路的線路，電極，或者FIB(聚焦離子束) 制作的mini電極。該系列軟針的結(jié)構(gòu)采用不同直徑鎢材質(zhì)針須焊接于鍍錫的銅材質(zhì)針桿上。其中T-4-10和T-4-22兩款是客戶反饋比較有優(yōu)勢(shì)的型號(hào)，因?yàn)槠溽橅氈睆捷^細(xì)，具有良好的彎曲彈性，能夠極大的減少對(duì)芯片電極的損害，在部分震動(dòng)環(huán)境下面也能夠保證和電極的良好接觸。
參數(shù)：針尖直徑從0.2um到10um可選
型號(hào)：T-4-5/10/22/35/60/125.0
鈹銅探針：
類別：BCP系列
尺寸：鈹銅材質(zhì)或者鈹銅鍍金
特點(diǎn)：99.99%鈹銅探針，相比于鎢探針更加柔軟，配合探針臺(tái)使用，不容易扎破樣品，能夠極大的減少對(duì)芯片電極的損害，在部分震動(dòng)環(huán)境下面也能夠保證和電極的良好接觸，比較適合于容易扎破扎穿那種樣品的測(cè)試。
參數(shù)：針尖直徑從1um到200um可選
型號(hào)：BCP050-3800-0.5R/1.0R/2.0R/5.0R/10.0R/25.0R/50.0R/100.0R
國(guó)產(chǎn)鎢探針類別：WG系列
尺寸：鎢材質(zhì)或者鎢鍍金
特點(diǎn)：WG系列硬針是0.020 inch (0.51mm) 直徑鎢材質(zhì)針桿經(jīng)過精密電化學(xué)加工成為不同的針尖直徑 ，長(zhǎng)度為1.5inch(38.1mm)的探針。這種探針應(yīng)用于絕大多數(shù)的芯片電極點(diǎn)測(cè)和線路點(diǎn)測(cè)。WG系列硬針可以用于與刮擦或者刺穿芯片表面鈍化層。該探針可選表面鍍金，表面鍍金時(shí)接觸電阻更小，可以減小接觸電阻對(duì)測(cè)試的影響，也可以防止氧化。
參數(shù)：針尖直徑從1um到200um可選
型號(hào)：WG-0.5R/1.0R/2.0R/5.0R/10.0R/25.0R/50.0R/100.0R
產(chǎn)品實(shí)物圖（美國(guó)GGB ST和T-4系列） 產(chǎn)品實(shí)物圖（國(guó)產(chǎn)）
點(diǎn)針實(shí)物圖： 
