MPI 深刻體認當今射頻應用量測所面對的諸多挑戰(zhàn)，特針對日益復雜的應用需求，開發(fā) TITAN™ 系列射頻探針，專注實現(xiàn)用戶的高端規(guī)格需求。TITAN™ 系列射頻探針提供單信號及雙信號規(guī)格、針距范圍 50 μm 至 1250 μm，頻率范圍 26 GHz 至110 GHz 可選購。TITAN™ 射頻探針適用于射頻、毫米波、至高 110 GHz 電路或連續(xù)至高 10 瓦功率型射頻組件的特性描述量測，是您晶圓級 S 參數(shù)量測的最佳選擇。即日起，用戶終于可不再受限于預算顧慮，能以無與倫比的超實惠價格享用到耐久高性能的射頻探針。
26 GHz Probe Model: T26(可選T26P)
特性阻抗 ：50 Ω
頻率范圍 ：DC to 26 GHz
插入損耗 (GSG configuration):< 0.4 dB
回波損耗 (GSG configuration): > 16 dB
DC 電流 :≤ 1 A
DC 電壓 ;≤ 100 V
RF 功率 @10 GHz :≤ 5 W
接頭 :SMA
針距范圍 :50 µm to 1250 µm
信號規(guī)格 :GSG, GS, SG
接頭角度
V-Style: 90-degree
A-Style: 45-degree
40 GHz Probe Model: T40（可選其他頻率，50G，67G，110G等） 特性阻抗 ：50 Ω
頻率范圍 ：DC to 40 GHz
插入損耗 (GSG configuration):< 0.6 dB
回波損耗 (GSG configuration):> 18 dB
DC 電流 :≤ 1 A
DC 電壓 ;≤ 100 V
RF 功率 @10 GHz :≤ 5 W
接頭 :K（2.92mm）
針距范圍 :50 µm to 1250 µm
信號規(guī)格 :GSG, GS, SG
接頭角度
V-Style: 90-degree
A-Style: 45-degree
Calibration Substrates校準基片 AC系列校準基片具備至多二十六組的校準標準，供 GS/SG、GSG 探針在晶圓量測前，進行 SOLT、LRM 針尖校準。AC校準基片亦包含至多五條的共平面校準線段，供 multiline TRL寬帶校 準使用。針對探針架設為直角的量測，AC2校準基片備有正交互易組件，方便用戶進行 SOLR 校 準。另亦有適合寬針距探針所使用的校準基片。
